Partulab佰力博 RMS1000S系列 半导体电阻率测量 高温电阻率测量

Partulab佰力博 RMS1000S系列 半导体电阻率测量 高温电阻率测量

电阻和电阻率测量系统 WIDE RANGE RESISTANCE AND RESISTIVITY MEASUREMENT SYSTEM RMS系列电阻和电阻率测量系统是用于评估材料导电性能关键测量仪器，Partulab佰力博数十位工程师和用户抽丝剥茧，调整、推翻、解决，让RMS系列电阻和电阻率测量系统有了全新定义。全新的RMS系列电阻和电阻率测量系统不仅可以提供单样品测量夹具和多样品测量夹具互换，还可以提供不同的测量环境（如：流动气氛、真空气氛、不用氧分压），以满足教学、科研多样化的应用场合需求。 10年专注 从nΩ到PΩ全量程电阻率和电阻率测量解决方案 ① 被业界一致电阻和电阻率测量系统 ② 拥有多项技术 ③ 集成化程度高、操作*简单 ④ 清华大学、上硅所** RMS-1000C系列 导电材料电阻率测量系统 测量通道：单通道 温度范围：RT-1000℃ 电阻率：10-8Ω.cm~105Ω.cm 控温精度：±0.5℃ 升温斜率：0-10℃/min（典型值3℃/min） 测量环境：空气、流动气氛、真空气氛 配套设备: KI2182+6221 RMS-1000S系列 半导体材料电阻率测量系统 测量通道：单通道 温度范围：RT-1000℃ 电阻率：10-4Ω.cm~108Ω.cm 控温精度：±0.5℃ 升温斜率：0-10℃/min（典型值3℃/min） 测量环境：空气、流动气氛、真空气氛 配套设备: KI2400 RMS-1000I系列 绝缘材料电阻率测量系统 测量通道：单通道 温度范围：RT-1000℃ 电阻率：103Ω.cm~1015Ω.cm 控温精度：±0.5℃ 升温斜率：0-10℃/min（典型值3℃/min） 测量环境：空气、流动气氛、真空气氛 配套设备: KI6517B RMS-1000P系列 薄膜四探针电阻测量系统 测量通道：单通道 温度范围：RT-1000℃ 电阻率：10-4Ω.cm~105Ω.cm 控温精度：±0.5℃ 升温斜率：0-10℃/min（典型值3℃/min） 测量环境：空气、流动气氛、真空气氛 配套设备: KI2400 RMS-1000S系列高温半导体材料电阻率测量系统 Partulab RMS-1000S系列半导体材料电阻率测量系统主要用于半导体材料导电性能的评估和测试，该系统采用四线电阻法测量原理进行设计开发，可以在高温、真空气氛的条件下测量半导体材料电阻和电阻率，可以分析被测样品电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线。目前主要针对圆片、方块、长条等测试样品进行测试，可以广泛用于半导体材料硅（si）、锗（ge）,化合物半导体材料shen化镓(GaAs)、di化铟（InSb），三元化合物半导体GaAsAl、GaAsP，固溶体半导体，如Ge-Si、GaAs-GaP等的块体材料的电阻率测量?等材料的电阻率测量。 ■ 技术规格： ???温度范围：RT-600℃/1000℃ 测试通道：单通道 供电：220V±10%，50Hz 升温斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min) 样品尺寸：φ＜20mm ,d＜5mm 工作温度：5℃ 至 + 40 ℃； 控温精度：±0.5℃ 电极材料：上下铂金电极 存储温度：–40 ℃ 至 +65 ℃ 电阻测量范围：0.1mΩ~100MΩ 控温方式：PID**控温 工作湿度：+40 ℃ 时，相对湿度较高达 95%（无冷凝） 电阻率测量范围：1mΩ..cm~10MΩ .cm 数据存储格式：TXT文本格式 设备尺寸：630x640x450mm 测量环境：空气、流动气氛、真空气氛 数据传输：USB 重量：38kg 测量方法：半导体材料2线法 符合标准：ASTM 保修期：1年 ■ NOTE 标准配置含主机、固体园片样品测量夹具、测量分析软件、标准样品工具箱、电源线、测量导线、测试报告、操作说明书。 其他产品： DMS系列-高低温介电温谱测量系统、四探针测量系统； RMS系列-电阻率测量系统、气敏电阻测量系统； MPD系列-多路油浴*化装置、高压*化仪 MPT系列-压电陶瓷*化设备； MRVS系列-真空封管机+系统、玻璃石英管抽真空设备； ARVS系列-全自动真空封管机 售后服务： 1、*安装培训，安装培训过程中供货方工程师的所有费用由供货方承担。 2、安装验收后，由供货方提供主机一年*保修，终身维护。 3、如果仪器附带软件，供货方提供*软件升级，同时不定期地邮寄相关资料。